高温烘箱在电子产品中的运用

利用高温烘箱进行元件的可靠性筛选。对于进行维修的电子元器件，应当把他们的特性测试一遍，然后，对所有元器件都施加外应力，经过一定的时间实验后，再把所有的特性复测一遍，以删除不合格的元件，这一过程称为筛选。主要方法有:高温存储筛选，这是一种加速器件存储寿命实验，把元器件放在高温烘箱内，温度通常在120-300℃之间，通过热应力加速内部硅芯片表面的电化效应，使潜在的故障加速暴露，这对于引线焊接不良、氧化层缺陷、污染等都有筛选作用。功率老化筛选是将元器件放在高温烘箱环境中，再连续加上一定的功率。经过较长时间的试验后，再测试的筛选方法。这与实际情况比较接近，是一种有效的筛选措施，他对于沟道漏电、硅片裂纹、封装不良等都有良好的效果。
温度冲击试验是采用高低温交替冲击的办法，剔除有潜在故障的元器件，在剧烈的高低温交变作用下，元器件内各种材料的热胀冷缩不匹配，芯片引线温度系数不匹配等缺陷都会加速暴露出来。