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高温烘箱/热风循环烘箱/电子产品试验烘箱

 

高温烘箱在电子产品中的运用

利用高温烘箱进行元件的可靠性筛选。对于进行维修的电子元器件,应当把他们的特性测试一遍,然后,对所有元器件都施加外应力,经过一定的时间实验后,再把所有的特性复测一遍,以删除不合格的元件,这一过程称为筛选。主要方法有:高温存储筛选,这是一种加速器件存储寿命实验,把元器件放在高温烘箱内,温度通常在120-300℃之间,通过热应力加速内部硅芯片表面的电化效应,使潜在的故障加速暴露,这对于引线焊接不良、氧化层缺陷、污染等都有筛选作用。功率老化筛选是将元器件放在高温烘箱环境中,再连续加上一定的功率。经过较长时间的试验后,再测试的筛选方法。这与实际情况比较接近,是一种有效的筛选措施,他对于沟道漏电、硅片裂纹、封装不良等都有良好的效果。
温度冲击试验是采用高低温交替冲击的办法,剔除有潜在故障的元器件
,在剧烈的高低温交变作用下,元器件内各种材料的热胀冷缩不匹配,芯片引线温度系数不匹配等缺陷都会加速暴露出来。

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